一种片上嵌入式Flash测试接口的设计

摘要

Flash存储器具有功耗低、存储容量大、体积小等特点,被广泛应用于嵌入式系统。目前Flash存储器多数使用串行接口进行擦写测试,存在着测试效率低、测试成本高等问题。针对以上问题,设计并实现了一种片上嵌入式Flash的测试接口。结合片上嵌入式Flash的接口特点和时序要求,设计了基于多线SPI的测试接口,并在确保稳定性的情况下实现了对多块Flash存储器并行测试的设计,提高了测试速度。通过NCverilog仿真结果表明,该设计有效缩短了测试时间,达到了测试要求,并成功应用于一款32位浮点微处理器中。