测定ZSM-5分子筛SiO2/Al2O3比的X射线衍射分析新方法

摘要

用X射线衍射最小二乘法测定ZSM-5分子筛的晶胞参数，由SiO2／Al2O3比与晶胞何种之间的经验公式，可得到ZSM-5分子筛的SiO2／Al2O3比。实验结果分析表明，该方法测定的ZSM-5分子筛SiO2／Al2O3比较通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好。