微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼铁合金中的钼含量

摘要

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定钼铁合金试样(钼质量分数为55%~65%)中的钼含量,单点校准获得了较好的线性.样品经酸化后微波消解处理,采用钇元素作为内标以减少仪器波动的影响,在波长202.030 nm的分析谱线处测得钼元素的最佳发射强度.检测结果显示微波消解的样品溶解时间可缩短为重量法的14%,检测结果的相对标准偏差为0.17%~0.22%,采用标准样品验证结果的准确度与重量法无显著差异,可以为ICP-OES法检测高含量组分提供参考.