金刚石氮-空位缺陷发光的温度依赖性

摘要

cqvip:利用低温光致发光光谱研究了金刚石氮-空位(NV)缺陷发光对测试温度的依赖性,并利用电子-声子耦合理论研究了NV缺陷零声子线的增宽机制.结果表明,随着测试温度的升高,NV缺陷零声子线发生位置红移、强度减弱、半高宽增加的现象,这些可以归因于金刚石晶格膨胀与电子-声子耦合协同作用.在波动场的作用下,NV缺陷零声子线呈现明显的均匀增宽机制.