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蒋柏林; 徐斌; 刘希玲; 韩建儒;
无;
机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
机译:YVO_4晶体中缺陷结构的X射线形貌研究
机译:利用同步加速器和常规X射线形貌研究GdCOB晶体中沿生长方向的缺陷分布
机译:固溶法生长SiC晶体的缺陷评价:同步加速器X射线形貌和刻蚀方法的研究
机译:X射线形貌技术在PVT生长4H-SiC晶体缺陷行为研究中的应用
机译:地下晶体层的X射线形貌
机译:溶液生长反式二苯乙烯晶体生长缺陷的X射线形貌研究
机译:生长适用于压电应用的大晶体aLpO4(柏林)晶体的问题包括研究磷酸铝晶体中孪晶的原因和消除石英型结构的孪晶研究
机译:晶体缺陷的X射线形貌测定法所具有的位错线是面内单晶样品
机译:用于测量二维或三维胶片形貌的测量设备,用于生产胶片卷的设备,用于在线识别二维或三维胶片形貌中的缺陷图像的方法。控制薄膜网的生产过程以防止缺陷的方法,控制薄膜网的生产过程以防止缺陷的方法,在线平直度确定的方法,生产薄膜网的设备和在线第一误差的确定方法特定平面度误差
机译:用于缺陷检查的X射线形貌成像中的图像对比度
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