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Interferometric synthetic aperture microscopy

机译：干涉性合成孔径显微镜

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作者
Ralston, Tyler S.;
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作者单位

University of Illinois at Urbana-Champaign.;

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授予单位 University of Illinois at Urbana-Champaign.;
学科
学位 Ph.D.
年度 2006
页码 177 p.
总页数 177
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类 AAI3250312;
关键词
Interferometry; Inverse scattering; Synthetic aperture microscopy;

机译：干涉测量;逆散射;合成孔径显微镜;

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