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【24h】

Suppression of Electronic Defects at the Oxide-SiGe Interface Using Intuitive and Counter-Intuitive Techniques

机译:使用直观和反向直观技术抑制氧化物-SiGe接口的电子缺陷

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著录项

  • 作者

    Kavrik, Mahmut Sami.;

  • 作者单位

    University of California San Diego.;

  • 授予单位 University of California San Diego.;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2019
  • 页码 155 p.
  • 总页数 155
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 AAI13426386;
  • 关键词

    Oxide-SiGe; SiGe; pFETs;

    机译:氧化物说;说;PFET.;

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