Measuring the electronic structure of atomically uniform silver films grown on silicon using angle-resolved photoemission spectroscopy

著录项

• 作者

  Speer, Nathan James;

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• 作者单位

  University of Illinois at Urbana-Champaign;

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• 授予单位 University of Illinois at Urbana-Champaign;
• 学科
• 学位 Ph.D.
• 年度 2008
• 页码 89 p.
• 总页数 89
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 AAI3337905;
• 关键词

  ARPES; Angle-resolved photoemission; Electronic structure; Quantum wells; Silver films; Thin films;

  机译：arpes;角度分辨的光曝光;电子结构;量子阱;银膜;薄膜;