Carrier Scattering and Localization in nm-thick Al/Ru, Al/Co and Al/Mo Superlattices

著录项

• 作者

  Zhang, Yanli.;

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• 作者单位

  State University of New York at Albany.;

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• 授予单位 State University of New York at Albany.;
• 学科
• 学位 D.A.
• 年度 2018
• 页码 79 p.
• 总页数 79
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 AAI10812413;
• 关键词

  Al-based superlattice; Carrier localization; Eletrical conductance; Interface scattering; Nm-thick film;

  机译：基于al的超廓;承运人本地化;电流;界面散射;NM厚膜;