University of Maryland College Park.;
Die attach reliability; Electronic packaging; Pulse power; Transient heating;
机译:应变和组成对AL_XCA_(1-X)N的压电和介电响应的作用:电力电子设备可靠性的影响
机译:高温碳化硅功率器件的瞬态液相管芯连接
机译:SiC功率器件上高温应用的烧结Ag_(80)-Al_(20)贴片纳米糊的可靠性
机译:硅片上贴片光电子器件的瞬态热成像表征
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机译:电力电子设备中小方形PCB Rogowski线圈测量瞬态电流的研究
机译:基于氮化镓MIS-HEMT CASCODE器件的可靠性表征,用于电力电子应用