退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:4氢碳化硅MOS器件的可靠性和辐照效果
Zhang, Xuan.;
Vanderbilt University.;
机译:高温作用下中子辐照对电光调制器器件速度性能的影响
机译:电力应力和中子辐射对碳化硅功率MOSFET可靠性的影响
机译:非晶碳化硼薄膜中辐照引起的改进的p-n异质结器件性能
机译:存在环境变化时快速中子辐照对多种氮化镓(GaN)器件可靠性的影响
机译:扩展缺陷的特征及其对4H碳化硅装置性能的影响。
机译:非线性振动冲击过程提高接触式MEMS装置可靠性的数值分析
机译:高频效应中子辐照对电光调制器器件速度性能的影响
机译:形成氧化物膜的方法,半导体装置,制造半导体装置的方法和装置,氧化硅碳化物和硅碳化物MOS半导体器件和硅碳化物的方法,用于该方法的集成电路器件和碳化硅MOS集成电路
机译:缓和碳化硅MOSFET器件中短通道效应的方法和组件
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。