University of Guelph (Canada);
机译:量子点异质结中能级和能级偏移的原位光谱电化学测定
机译:通过电容电压曲线和光致发光光谱法确定应变lnAs-xP-(1-x)/ lnP量子阱中的带隙
机译:通过电容电压分布和Schroedinger-Poisson自洽仿真确定应变In_xGa_(1-x)As / GaAs量子阱中的带隙
机译:陷阱对基于CIGSe异质结的电容电压和驱动级分析测量的载流子浓度曲线的影响
机译:GaAs / AlGaAs系统的异质结:通过金属有机化学气相沉积进行的晶体生长以及使用电容电压技术进行表征,以确定导带不连续性
机译:分子四极矩对有机异质结处能级的影响
机译:量子点异质结中能级和能级偏移的原位光谱电化学测定
机译:利用电容电压技术确定界面态存在下的异质结能带不连续性