King Fahd University of Petroleum and Minerals (Saudi Arabia);
机译:故障表征,测试注意事项和BiCMOS逻辑电路的可测试性设计
机译:差分BiCMOS逻辑电路:故障表征和可测试性设计
机译:差分BiCMOS逻辑电路:故障表征和可测试性设计
机译:多值逻辑电路中的故障表征和可测试性考虑
机译:大型集成逻辑电路测试中的前馈逻辑模型
机译:基于极限学习机的模拟电路故障检测测试生成算法
机译:多值逻辑电路中的故障表征和可测试性考虑因素。