Florida Atlantic University;
机译:Si(111)和Si(100)表面上铟覆盖层的电子能量损失谱,低能电子衍射和俄歇电子能谱研究
机译:GaP和Si表面的俄歇电子能谱(AES)和电子能量损失能谱(EELS)研究
机译:通过X射线和紫外光电子能谱,低能电子衍射,俄歇电子能谱和功函数测量直接观察LaB6(001)在高温下的表面
机译:俄歇电子能谱(AES),TEM电子能量损失谱(EELS)在晶片制造中多槽问题的失效分析中的应用
机译:使用X射线光电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失能谱和低能电子衍射来表征氧化铝的电子和几何结构。
机译:俄歇电子的能量沉积与分子损伤之间的相关性:超低能量(5–18 eV)电子与DNA相互作用的案例研究
机译:用LEED(低能量电子衍射)和AES(螺旋钻电子谱)从化学吸附到氧化的o / Ni(100)研究
机译:用aEs(俄歇电子能谱),Xps(诱导光电子能谱),EELs(电子能量损失谱)和LEED(低能电子衍射)研究Fe-si合金的初始氧化