University of Illinois at Urbana-Champaign;
机译:具有公差的模拟电路软故障的故障特征分析
机译:CMOS模拟电路参数故障BIST的相位差分析技术
机译:模拟电路故障的多频分析
机译:将感应故障分析扩展到模拟电路中的参数故障,并应用于测试生成
机译:模拟电路的分层过程可变性分析及其在测试开发,故障诊断,成品率估计和设计综合中的应用
机译:使用EEMD相对熵和ELM的模拟电路故障诊断
机译:容差模拟电路软故障的故障特征分析
机译:非线性模拟电路的故障诊断。第四卷。模拟故障字典的隔离算法。