Drexel University.;
机译:从超薄,压缩应变的绝缘体上锗硅薄膜的固态去湿到掌握Si1-xGex纳米晶体的化学计量
机译:化学计量对DyScO
机译:化学计量学对DyScO_3衬底上应变外延SrTiO_3薄膜介电性能和软模行为的影响
机译:化学计量对垂直钡铁氧体薄膜介质磁性和结构性能的影响
机译:硅酸镁薄膜和粉末的溶胶-凝胶合成及镍铝复合材料的合成与表征
机译:铜酞菁薄膜的干刻蚀:对形态和表面化学计量的影响
机译:化学计量比受控的VOx薄膜的生长和性能