State University of New York at Buffalo.;
机译:交流电对无铅焊料合金电迁移和热迁移的破坏机理:实验研究
机译:高电流密度封装中倒装芯片焊点的电迁移和热迁移行为
机译:电流应力下微/电力电子焊点的实验损伤力学
机译:高电流密度下微电子焊点的损伤机理
机译:用于高级封装应用的无铅焊点的电迁移和热迁移可靠性。
机译:Cu / Sn-3.0AG-0.5Cu / Cu / Cu / Cu / Cu焊点在电迁移期间锯齿状阴极溶解的结晶特征效应
机译:Sn8Zn3Bi焊点中的热迁移和电迁移
机译:损伤力学表征焊接材料的疲劳行为