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第一章文献综述
1.1微电子封装介绍
1.2微电子封装用材料
1.2.1锡铅钎料
1.2.2无铅钎料
1.3高温蠕变的理论机制
1.3.1蠕变的本构方程
1.3.2蠕变应力指数n的确定
1.3.3蠕变激活能Q的确定
1.3.4蠕变变形机制
1.4蠕变断裂时间研究
1.5焊锡钎料的蠕变性能研究现状
1.5.1 63Sn37Pb的蠕变性能研究
1.5.2无铅钎料的蠕变性能研究
1.6本文的工作及研究意义
1.6.1本文工作
1.6.2本文研究意义
第二章试验材料与试验设备
2.1材料与试件
2.1.1材料
2.1.2试件尺寸及加工
2.2试验设备及控制
2.3试验标定
2.4本章小节
第三章试验结果与分析
3.1 63Sn37Pb的试验内容
3.1.1 63Sn37Pb的蠕变曲线
3.1.2表观应力指数和激活能
3.1.3蠕变主控机制
3.1.4 63Sn37Pb蠕变数据的讨论
3.2 Sn0.7Cu的试验内容
3.2.1 Sn0.7Cu的蠕变曲线
3.2.2表观应力指数和激活能
3.2.3门槛应力方法
3.2.4蠕变主控机制
3.3 63Sn37Pb与Sn0.7Cu的比较
3.3.1蠕变应变率的比较
3.3.2蠕变激活能的比较
3.3.3钎料的微观组织的比较
3.4本章小结
第四章63Sn37Pb的蠕变断裂时间分析
4.1 63Sn37Pb的Monkman-Grant关系
4.2断裂时间预测
4.2.1断裂表面形貌
4.2.2预测结果
4.3本章小结
第五章结论
参考文献
作者简介
致 谢