Center for Thin Film Device, The Pennsylvania State University, University Park, PA;
机译:a-Si:H中光致缺陷的产生,退火和光电导降解的理论研究
机译:在重复的照明和退火周期中,氢化多晶硅中光诱导的缺陷产生
机译:微晶硅太阳能电池中光致缺陷的产生和热退火的动力学
机译:A-Si中的1阳光照明创建的快速诱导缺陷状态的创作和退火动力学:h
机译:电场对磷化铟半导体结中稳定的辐射诱导缺陷的形成和退火的影响。
机译:A-Ingazno薄膜晶体管中光漏电流和负偏压照明应力的退火诱导稳定性的定量分析
机译:a-Si:H薄膜中光致退火效应的研究
机译:光照下缺陷产生过程动力学模型计算a-si:H中光电导率的时间依赖性行为