Assembly Technology Development, Intel Corp.rnChandler, AZ 85224;
University of Illinois at Urbana-ChampaignrnUrbana, IL 61801 Email:masl@uiuc.edu;
机译:使用光学,机械和扫描探针方法测量纳米和微米级表面性质
机译:使用扫描探针显微镜对纳米至微米级的磨损和机械特性进行表征
机译:使用扫描探针显微镜对纳米至微米级的磨损和机械特性进行表征
机译:微观电解探针,具有集成式体传感器,用于纳米至微升流体体积
机译:纳米/微米级结构中的非扩散导热。
机译:注入腹腔的液体中电解质和体积的变化
机译:微观电解探针,具有集成温度传感器,用于纳米至微升流体体积