GlobalWafers Japan Co., Ltd., 30 Soya, Hadano, Kanagawa 257-8566, Japan;
GlobalWafers Japan Co., Ltd., 30 Soya, Hadano, Kanagawa 257-8566, Japan;
GlobalWafers Japan Co., Ltd., 30 Soya, Hadano, Kanagawa 257-8566, Japan;
GlobalWafers Japan Co., Ltd., 30 Soya, Hadano, Kanagawa 257-8566, Japan;
机译:碳化硅晶体本体生长中流场和浓度分布的数值模拟
机译:具有超低碳浓度的直拉硅晶体的生长
机译:直流光导衰减法评估直拉生长硅晶体的超长本体寿命
机译:低碳浓度对硅晶体散装寿命的影响
机译:大量寿命限制Czochralski硅和石墨烯氧化物的缺陷作为表面钝化材料
机译:散装土壤有机碳含量的变化如何影响单个土壤颗粒部分中的碳浓度?
机译:碳化硅晶体大部分流域流域和浓度分布的数值模拟
机译:检测器级硅和锗晶体中表面复合速度和体积寿命的测定。