Institut Lavoisier de Versailles ILV - UMR- CNRS 8180 UVSQ, 45, Avenue des Etats-Unis 78035 Versailles Cedex- France;
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机译:通过计时电位法在液氨中(-55摄氏度)上的InP进行XPS分析与生长膜之间的直接相关性
机译:阳极处理液氨中的InP后稳定的P-N键的第一个证据:一种新的III-V材料钝化路线
机译:用高频电容-电压测量研究玻璃上液相结晶硅的界面钝化
机译:在液态氨中的INP氮化物钝化过程中的光电化学研究和电容测量(-55°C)
机译:基于n-GaAs的半导体/液体结光电化学电池的光腐蚀和钝化研究。
机译:毛细胞毛细血管炎的无源电缆特性及其对体电容测量的贡献
机译:具有用于液体测量的电容传感器的电容层析成像(ECT)系统的硬件开发
机译:使用多硫化物和氮化硅覆盖层钝化Inp表面