EEB 350, MC 2562, EE-Systems Dept., USC, Los Angeles, CA;
EBU1-4402, MC 0407, Dept. of ECE, UCSD, La Jolla, CA;
机译:异步突发模式电路的平均情况技术映射
机译:突发模式和扩展突发模式异步电路的HDLs建模技术
机译:异步突发模式电路中的软错误容限和缓解
机译:一种用于优化异步突发模式电路技术映射中平均时延的启发式覆盖技术
机译:在异步电路的技术映射中优化平均情况性能。
机译:体内药理学研究:由于靶向微技术和基质丙烯酸优化和稳定化技术的结果,普罗布考的组织蓄积变化
机译:异步突发模式电路技术映射中优化平均时延的启发式覆盖技术
机译:基于约束门延迟比的延迟自由实现异步时序开关电路。