Lucent Technologies, Microelectronics Pte Ltd, 3 Kallang Sector, Kolam Ayer Industrial Park, Singapore 349278;
机译:铜污染对使用X射线光电子能谱法进行的第二焊线工艺质量的影响
机译:小面积X射线光电子能谱(SAXPS)分析半导体材料和过程中的微观污染
机译:使用灰模糊Taguchi方法优化具有多种质量特征的细间距铜线焊接工艺
机译:X射线光电子能谱法研究铜污染对金线与镍钯键合焊盘接触质量的影响
机译:X射线光电子能谱法在低温下原位氧化研究铜,锡和铜锡金属间化合物
机译:X射线光电子能谱对痕量表面污染物的定量分析第一部分:检测极限附近的统计不确定性
机译:Xps定量表面分析(X射线光电子能谱):在加氢处理催化剂中的应用分析定量XPS定量表面分析(X射线光电子能谱):氢辅助催化剂的应用
机译:托卡马克墙的氧和碳键合的X射线光电子能谱(Xps)研究