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A Simple Autofocus Technique for Aberration Corrected TEM

机译：一种简单的自动对焦技术，用于像差校正TEM

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来源
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》|2010年|p.164-165|共2页
会议地点 Portland OR(US)
作者
G. M?bus;
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作者单位

Dept. Engineering Materials, University of Sheffield, Mappin Street, Sheffield S1 3JD, UK;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类显微镜;
关键词
入库时间 2022-08-26 14:10:07

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