Engineering Of Memristors For Crossbar Devices Using The Helium Ion Microscope

著录项

• 来源
  《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》|2012年|818-819|共2页
• 会议地点 Phoenix AZ(US)
• 作者

  D. Winston; D. Ohlberg; J. P. Strachan; R. S. Williams;

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• 作者单位

  Hewlett-Packard Laboratories, 1501 Page Mill Rd, Palo Alto, CA 94304;

  Hewlett-Packard Laboratories, 1501 Page Mill Rd, Palo Alto, CA 94304;

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• 会议组织
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
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• 关键词