Department of Physics, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada T6G 2G7 National Institute for Nanotechnology, 11421 Saskatchewan Dr., Edmonton, Alberta, Canada T6G 2M9;
rnDepartment of Physics, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada T6G 2G7 National Institute for Nanotechnology, 11421 Saskatchewan Dr., Edmonton, Alberta, Canada T6G 2M9;
机译:压力诱导的SiO _2和MgSiO _3多晶型物的局部电子结构变化:从O K边缘能量损失近边缘结构光谱的从头算计算中获得的见解
机译:电子能量损失谱(EELS)的傅里叶比反褶积技术
机译:电子能量损失谱(EELS)的傅里叶比反褶积技术
机译:使用TEM能量色散X射线光谱仪(EDS)和电子能量损失谱仪(EELS)对半导体器件进行化学分析
机译:原始陨石中细颗粒材料的透射电子显微镜和电子能量损失谱。
机译:在对数期和分裂的大肠杆菌B细胞中的钙镁和一价离子的电子探针分析X射线映射和电子能量损失谱。
机译:准二维晶体的电子能量损失谱: 超越能量损失函数形式主义
机译:电子能量损失谱中重叠特征的反卷积:电子碰撞激发分子电子态的绝对微分截面的确定