FEI Company, Achtseweg Noord 5, Eindhoven, The Netherlands;
rnFEI Company, Achtseweg Noord 5, Eindhoven, The Netherlands;
机译:模型氧化物接口的原子尺度扫描透射电子显微镜 - 能量分散X射线光谱(STEM-EDS)映射的测量误差
机译:使用能量色散X射线光谱法对氧化物界面进行原子级化学定量
机译:使用能量色散X射线光谱法对氧化物界面进行原子级化学定量
机译:使用能量色散X射线光谱在原子级进行化学制图
机译:使用统计机械搜索对X射线散射得出的势能表面求解原子结构。
机译:能量色散X射线光谱法对金属合金结构进行原子级化学成像和定量
机译:通过能量分散X射线光谱法的原子尺度化学成像和金属合金结构的定量