Center for Nanoscience and Nanotechnology, and School of Materials Science and Engineering,rnGeorgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332-0245. E-mail: zhong.wang@mse.gatech.edu;
机译:用扫描探针显微镜表征铜后CMP表面:第二部分:用扫描开尔文探针力显微镜测量表面电势
机译:观察领域不断发展:结合扫描探针和扫描透射电子显微镜对极化转换的原位研究
机译:在热氧化的AISI 304和AISI 316不锈钢上进行原子力显微镜,扫描开尔文探针力显微镜和磁测量
机译:TEM中扫描探针显微镜:纳米尺寸尺寸测量的原位方法
机译:通过扫描探针显微镜对半导体上的二维二维掺杂物轮廓进行定量测量。
机译:使用高温扫描探针显微镜原位全场测量镍基合金表面的氧化
机译:TEM中扫描探针显微镜:纳米尺度性能测量的原位方法
机译:电沉积镍的原位扫描探针显微镜。