NXP Semicond. - Central RD, Eindhoven, Netherlands;
机译:用于测量大气控制条件下半导体器件低频噪声参数的自适应算法
机译:室温和低温下基于金属氧化物半导体场效应晶体管的电荷转移装置的低频噪声表征
机译:FinFET器件的直流和低频噪声表征
机译:使用DC参数分析仪的半导体器件的非常低频噪声表征
机译:半导体器件的低频体和表面产生-复合噪声仿真。
机译:均质半导体中低频噪声的性质
机译:用于测量半导体器件低频噪声参数的自适应算法。
机译:宽间隙半导体,siC和GaN的低频噪声特性研究,以及siC基功率器件,二极管和晶闸管的主要特性