electrostatic discharge; embedded systems; failure analysis; ESD protection; device failure current; embedded systems; fragile devices; open-drain Ilt; supgt; 2lt; /supgt; C; open-drain outputs; output transistor; standard characterization; Current measurement; Discharges (electric); Electrostatic discharges; Impedance; MOS devices; Probes; Transmission line measurements;
机译:纳米CMOS技术中具有嵌入式SCR结构作为电源轨ESD钳位设备的I / O单元的ESD保护设计
机译:CMOS工艺中带有嵌入式ESD保护器件的2.4 GHz T / R开关的设计
机译:了解在系统级测试中在ESD保护设备中观察到的退化和故障机制
机译:使用嵌入式系统中的易碎器件对漏极开路I2C进行ESD保护
机译:新型基于硅的可控整流器(SCR)的器件的设计,表征和紧凑模型,用于集成电路中的静电放电(ESD)保护应用。
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件用于28 nm CMOS过程中的ESD保护
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件,用于28 nm CMOS过程中的ESD保护