SEE: secondary electron emission; AO: atomic oxygen; I_p: primary current; I_s: SEE current; SEM: scanning electron microscopy; et al;
机译:航天材料上的二次电子发射:通过表面电势测量评估总二次电子产率
机译:碳覆盖多层光学器件的二次电子产率测量
机译:通过测量二次电子发射率研究不同石英玻璃的充电稳定性
机译:原子氧辐射防护玻璃的二次电子发射测量
机译:通过测量角能量分辨的金的二次电子和反向散射电子发射的横截面来测量二次电子的产生和传输机理。
机译:磁控溅射沉积非晶碳膜的基体温度相关的微观结构和电子诱导的二次电子发射特性
机译:用于热电子的等离子体中等离子体电位测量的二次电子发射电容探针
机译:固体中0.1-10-keV X射线诱发的电子发射 - 模型和二次电子测量。