Silicon; Transistors; Microscopy;
机译:使用扫描扩展电阻显微镜的纳米线晶体管中的定量三维载流子映射
机译:使用高真空扫描扩展电阻显微镜在32 nm节点靶向p-MOSFET上以纳米级进行二维载流子映射
机译:使用校准的扫描扩展电阻显微镜和扫描电容显微镜对太赫兹量子级联激光器中的载流子进行二维轮廓分析
机译:硅纳米线的定量二维载波使用扫描扩展显微镜扫描基于硅纳米线的隧道场效应晶体管映射
机译:使用扫描扩展电阻显微镜对III-V型化合物半导体掺杂剂进行分析。
机译:基于硅纳米线的场效应晶体管中泄漏电流的快速频域表征方法
机译:朝向常规,定量二维载体分析,具有扫描散布显微镜