ESD試験におけるシリコーンゲルで封止したプリント配線板上パターン導体間のララッシオーバ電圧に及ぼす電極突起の影響

摘要

これまで筆者は、大気およびシリコーンゲル封止プリント配線板上円盤状パターン導体間でのフラッシオーバ電圧（FOV）特性を、ESD試験器を用いてギャップ長を変化させて測定している。本論文では、大気中およびシリコーンゲルで封止したプリント配線板上パターン導体間の電極形状を「円盤」と「突起付き円盤」の2種類を対象にESD試験器を用いてフラッシオーバ電圧特性を調べた。