机译:沟道注入的SiC NMOS和PMOS晶体管中栅极氧化物的电稳定性影响
机译:通过Al注入(pMOS)和$ hbox {Yb} {+} hbox {P} $ Coimplant(nMOS)在SiON上具有成本效益的低$ V_ {t} $ Ni-FUSI CMOS
机译:通过Al注入(pMOS)和Yb + P共注入(nMOS)在SiON上具有成本效益的低Vt Ni-FUSI CMOS
机译:激活浅B的非破坏性表征和全NMOS和PMOS流程中的植入物
机译:浮栅注入剂量的表征及其对PMOS电可擦单元(PEEC)存储器阵列的影响。
机译:在工业相关木质纤维素糖化条件下Thielavia Australiensis的AA9 LPMO表征AA9 LPMO
机译:利用新型PMOS和NMOS的铝系统设计为低功率和高速应用