CMOS digital integrated circuits; electric sensing devices; integrated circuit testing; deep submicron digital CMOS IC; built-in current sensor; /spl Delta/I/sub DDQ/ testing; defect-free circuits; defect detection; IC test chip; transistors; 0.18 micron; 250 MHz; 1 muA; 1 mA;
机译:内置电流传感器,用于/ spl Delta / I / sub DDQ /测试
机译:新颖的基于电流传感器的内置CMOS集成电路$ I_ {rm DDQ} $测试方案
机译:一个简单的内置电流传感器,用于CMOS数据转换器的I_(DDQ)测试
机译:内置电流传感器,用于/ spl Delta / I / sub DDQ /测试深亚微米数字CMOS IC
机译:基于1-16 GB / S的全数字阶段内插器的时钟和数据恢复电路及深亚微米CMOS晶体管在低温温度下的可靠性研究
机译:用于亚微米像素的45 nm堆叠式CMOS图像传感器处理技术
机译:用于I DDQ sub> CMOS IC测试的电流传感器的设计