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机译:近场金属涂层双锥探针的收集效率和空间分辨率的FDTD分析
Keiji Sawada; Hirotomo Kambe; Hiroaki Nakamura; Toshiharu Saiki;
机译:金属涂层近场探头的耦合效率
机译:结合使用STM发光和孔径SNOM扫描探针的尖端性能建模:空间分辨率和收集效率
机译:理想的全金属涂层扫描近场光学显微镜探针中由于球形缺陷引起的模式耦合分析
机译:FDTD分析近场金属涂层双锥探针的收集效率和空间分辨率
机译:磁近场探头的空间分辨率研究
机译:在任意取向的线性偏振激发下具有全螺旋的全金属涂层扫描近场光学显微镜探头和螺旋波纹
机译:理想全金属涂层近场光学显微镜探针的球形缺陷因子耦合分析
机译:分析微波近场探头的空间分辨率和微波显微镜配备系统的方法和系统
机译:近场光谱分析的标准样品,以及使用相同标准样品的空间分辨率评估方法
机译:用于样品的高空间分辨率化学分析的装置和高空间分辨率化学分析的方法
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