Power semiconductor devices; Power MOSFET; Planar-trench gate; Etching;
机译:硅栅极微结构和栅极氧化物工艺对掺氟的p / sup +/-栅极p沟道MOSFET中阈值电压不稳定性的影响
机译:具有低导通电阻和降低的栅极电荷的改进的4H-SiC沟槽栅极MOSFET结构
机译:具有深凹槽结构的常关GAN MOSFET中抑制短信效应
机译:一种新的沟槽计划栅极MOSFET结构
机译:使用磷化铟铝作为栅介质的亚微米栅长砷化镓沟道MOSFET的制备和性能。
机译:控制氧化铝微结构以减少钻石MOSFET中的栅极泄漏
机译:纳米级单和双栅sOI mOsFET结构和电气性能因子压缩