机译:在相域建模框架中促成非晶材料的脑镜性能的思科不均匀性
机译:寻求一种模拟粒状材料行为的新方法:介观-宏观尺度的变化
机译:加载后粒状材料介观参数和力学性能的演变
机译:由于介性材料不均匀性,宏观材料特性的临界电流模式的粒度和宏观材料特性的降解
机译:固体,颗粒状电磁材料的介电常数和磁导率:光谱计算的当前方法的严格检查和扩展
机译:从宏观到介观尺度射频场与介电材料的相互作用
机译:低温测量的实验技术:低温测量的低温设计,材料性能和超导体临界电流测试实验技术,用于低温测量:低温恒温器设计,材料特性和超导体临界电流测试,杰克W. ekin,牛津U.按,纽约,2006年。$ 125.00(673 pp)。 ISBN 978-0-19-857054-7