均等化電流を利用したLC直列回路方式セル電圧均等化回路の回路素子の劣化判定

摘要

本論文では，LC直列回路方式セル電圧均等化回路の安定的な動作のために必要不可欠である電解コンデンサの劣化状況を，均等化動作中の均等化電流を用いてオンラインで診断可能な手法を提案した。また，回路シミュレータPSIMを用いたシミュレーションにより，提案手法の有用性の検証を行った。その結果，理論解析によるt_(iLmax)の算出結果とシミュレーション結果から算出したt_(iLmax)の値は高い精度で一致しており，提案手法を用いることで提案回路に搭載された電解コンデンサの劣化状況をオンラインで診断可能であることが確認された。これにより，バッテリモジュールの停止や回路基板の取り外し等を伴わずにセル電圧均等化回路としての寿命を判定することが可能となり，提案回路の長期的な安定動作に寄与することが期待される。今後，本論文にて提案した診断手法を実機へ実装し，引き続き実機実験においても有用性の検証を行っていく予定である。