The impact of high Vth drifts tail and real workloads on SRAM reliability

机译：高V 漂尾和实际工作负载对SRAM可靠性的影响

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Based on experimental measurements at bitcell level combined with SPICE and Monte-Carlo simulations, an analytical method is presented to accurately predict fresh/aged Vmin distributions. The impact of BTI variability modeling and real workloads considerations is also deeply analyzed in this paper.

机译：基于在位单元级别的实验测量结果，结合SPICE和蒙特卡洛模拟，提出了一种分析方法，可以准确地预测新鲜/老化的Vmin分布。本文还对BTI可变性建模和实际工作量注意事项的影响进行了深入分析。

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来源
《International Reliability Physics Symposium》|2014年|1-6|共6页
会议地点
作者
Angot D.; Huard V.; Quoirin M.; Federspiel X.; Haendler S.; Saliva M.; Bravaix A.;
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作者单位

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中图分类
关键词
Bias Temperature Instability (BTI); Static Random Access Memory (SRAM); reliability; variability; workloads;

机译：偏置温度不稳定性（BTI）;静态随机存取存储器（SRAM）;可靠性;变化性;工作量;

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