flash memories; integrated circuit reliability; integrated circuit modelling; leakage currents; statistical analysis; leakage current statistics; statistical simulations; data retention; program disturbs; flash memory reliability; stress-induced leakage;
机译:通过针对高可靠性和低功耗企业固态硬盘(SSD)的铁电(Fe)-NAND闪存存储器的存储单元V-TH优化,改善了读取干扰,程序干扰和数据保留
机译:通过使用新型数据编程方法,为每单元20纳米以下三级NAND闪存提供出色的数据保留
机译:NAND闪存阵列编程分布中随机电报噪声对数据保留对单元位置的敏感性
机译:统计仿真检查和预测闪存中的数据保留和节目扰动
机译:闪存会干扰故障:建模,仿真和测试。
机译:非对称编程:基于MLC NAND闪存的传感器系统的高度可靠的元数据分配策略
机译:1 mLC NaND闪存中的数据保留:表征,优化和恢复