ball grid arrays; soldering; thermal stress cracking; fine-pitch technology; finite element analysis; circuit reliability; fatigue testing; printed circuits; thermal fatigue life prediction method; BGA solder joints; fine-pitch BGA solder joints; cra;
机译:BGA焊点热疲劳寿命评价方法研究
机译:BGA焊点热疲劳寿命评估方法的研究
机译:用有限元分析预测无铅BGA焊点的热疲劳寿命
机译:基于基本裂纹扩展研究的BGA / FBGA焊点热疲劳寿命预测新方法
机译:有缺口的情况下在多轴载荷下的疲劳行为:预测裂纹扩展中的寿命至裂纹萌生和寿命的方法学(胎片,塑性应变,预测)。
机译:考虑载荷顺序影响的BGA热疲劳寿命预测模型
机译:通过有限元分析预测无铅BGA焊点的热疲劳寿命