Logic gates; Stability analysis; Capacitance; Thermal stability; Circuit stability; Silicon; Quantum dots;
机译:通过同时进行栅极电压扫描来评估紧凑型硅三量子点的电容
机译:近藤效应在串联耦合对称三重量子点中的再现
机译:长距离相干隧穿效应对串联耦合三量子点中电荷和热电流的影响
机译:通过同时电压扫描方法评估具有紧凑型器件结构的串联耦合三量子点
机译:耦合量子点装置的运输和充电感测测量
机译:嵌入氮化硅薄膜中的硅量子点与金纳米粒子在发光器件中的耦合增强了电致发光
机译:串联耦合对称三量子点中的kondo效应的重新出现