FPGA; aging; radiation; volage scalling;
机译:电压缩放和老化对基于SRAM的FPGA中软错误率的影响
机译:一种软件解决方案,用于估计在基于SRAM的FPGA上实现的系统的SEU引起的软错误率
机译:缩放对250nm至22nm设计规则中SRAM中中子感应软误差的影响
机译:基于SRAM的FPGA中中子诱导的软错误率的老化和电压缩放影响
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:基于FPGA技术的电压源逆变器新型混合调制策略
机译:基于SRAM的FPGA中子引起的软错误率下的老化和电压缩放影响