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Improved modeling of Coulomb-enhanced and Urbach-broadened absorption edge of direct-gap semiconductors for band-parameter extraction

机译:用于带参数提取的直接隙半导体的库仑增强和Urbach扩展吸收边的改进模型

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摘要

An improved model for the Coulomb-enhanced and Urbach-broadened absorption spectrum that can be used to extract the band parameters for the band-edge region as well as to calculate the refractive index spectrum accurately.
机译:库仑增强和Urbach扩展吸收光谱的改进模型,可用于提取带边缘区域的带参数以及精确计算折射率光谱。

著录项

  • 来源
    《》|2007年|99-102|共4页
  • 会议地点
  • 作者

    Lin; E. Y.; Lay; T. S.; Chang; T. Y.;

  • 作者单位
  • 会议组织
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