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Testing microprocessor-based boards (VXI/PXI Plug and Play technology applications)

机译：测试基于微处理器的板卡（VXI / PXI即插即用技术应用程序）

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Testing microprocessor-based boards (/spl mu/P) could be a challenge even for the experienced test engineer. This paper reviews the related challenges and available test philosophies for the functional testing of these products.

机译：即使对有经验的测试工程师来说，测试基于微处理器的板（/ spl mu / P）可能也是一个挑战。本文回顾了这些产品的功能测试的相关挑战和可用的测试原理。

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来源
《》|2003年|p.294-297|共4页
会议地点
作者
Gutterman; L.;
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会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类无线电电子学、电信技术;
关键词
peripheral interfaces; printed circuit testing; integrated circuit testing; microprocessor chips; test equipment; synchronisation; microprocessor-based board testing; test challenges; test philosophies; functional testing; external test equipment;

机译：外围接口;印刷电路测试;集成电路测试;微处理器芯片;测试设备;同步;基于微处理器的电路板测试;测试挑战;测试理念;功能测试;外部测试设备;

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