microcracks; flash memories; acoustic microscopy; memory tester; nondestructive detection; microcrack; crack patterns; flash memory devices; die crack;
机译:用于闪存设备的HfON陷阱层的热稳定性和存储特性
机译:形成气体退火对嵌入LaAiO(3)高k电介质中的Ge纳米晶体存储特性的影响
机译:InAs量子点作为电荷存储元件,用于闪存设备
机译:存储器测试仪在闪存器件中的微裂纹和裂纹图案的非破坏性检测中的应用
机译:小型铁磁图案的磁畴工程及其在存储设备中的应用。
机译:基于芴的新型共轭侧链含氟聚合物用于发光和三元闪存器件
机译:形成气体退火对嵌入LaAlO3高k电介质中的Ge纳米晶体存储特性的影响