机译:利用表面光电压数字示波器确定电荷载流子的扩散长度
机译:未掺杂和掺Si的GaN外延膜中少数载流子扩散长度的表面光电压光谱
机译:确定半导体晶片中少数载流子的寿命和扩散系数的方法
机译:用表面光电技术用非均匀载体寿命测定半导体晶片中的少数载波扩散长度
机译:通过表面光电压技术(半导体,辐射损伤,扩散长度)表征磷化铟和砷化镓。
机译:反斯托克斯光致发光探测简并掺杂半导体中少数载流子的k守恒和热化
机译:分子束外延生长的β-FeSi2层的少数载流子扩散长度,少数载流子寿命和光响应性
机译:用调制光束同时测定少数载体的扩散长度,寿命和扩散常数