bismuth compounds; semiconductor thin films; Seebeck effect; thermoelectricity; X-ray diffraction; transmission electron microscopy; Rutherford backscattering; vacuum deposited coatings; stoichiometry; thermoelectric Bi/sub 85/Sb/sub 15/; XRD; TEM; RBS;
机译:Bi-Sb合金薄膜的生长及其TEM,PIXE和RBS表征
机译:BI92SB8和BI85SB15薄膜的热电力
机译:SbI3和CuBr掺杂的n型85%Bi2Te3-15%Bi2Se3合金的热电性能
机译:热电Bi {Sub} 85SB {Sub} 15合金薄膜及其XRD,TEM&RBS的表征
机译:基于碲化铋和碲化锑的共蒸发热电薄膜:技术,特性和优化。
机译:硼离子注入多晶Si1-x-yGexSny薄膜中三元合金化在室温下实现高热电性能
机译:机械合金化和低温无压烧结制备的P型Bi85Sb15-xSnx合金的热电性能